產(chǎn)品簡介 產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議 應(yīng)用領(lǐng)域 生物產(chǎn)業(yè) 一鍵式全自動快速橢偏儀 儀器簡介： 新型的全自動薄膜測量分析工具，工業(yè)化設(shè)計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。 詳情介紹 儀器簡介： 橢圓偏振光譜是一種無損無接觸的光學(xué)測量技術(shù)，基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變，通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學(xué)性質(zhì)等等，可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。此外，還可以測試材料的反射率及透過率。 技術(shù)參數(shù)： * 光譜范圍 : 190-885 nm （可擴展至 2100nm ） * 微光斑可選 50µm-100µm-1mm * 探測器：分別針對紫外，可見和近紅外提供優(yōu)化的 PMT 和 IGA 探測器 * 自動樣品臺尺寸：多種樣品臺可選 * 自動量角器：變角范圍 40 ° - 90° ， 全自動調(diào)整，小步長 0.01° 主要特點： * 50KHz 高頻 PEM 相調(diào)制技術(shù)，測量光路中無運動部件 * 具備超薄膜所需的測量精度，超厚膜所需的高光譜分辨率 * 具有毫秒級超快動態(tài)采集模式，可用于在線實時監(jiān)測 * 自動平臺樣品掃描成像、變溫臺、電化學(xué)反應(yīng)池、液體池、密封池等多種附件 * 配置靈活 上一篇： Auto SE一鍵式全自動快速橢偏儀 下一篇： XelPleX全自動表面等離子體共振成像儀