產(chǎn)品簡(jiǎn)介 HORIBA科學(xué)儀器部InGaAs陣列探測(cè)器，是近紅外NIR弱信號(hào)探測(cè)的理想選擇，擁有可以測(cè)量到0.8-1.7μm和1-2.2μm的兩種類型，制冷可以采用TE制冷或者液氮制冷的方式?？梢耘cHORIBA Jobin Yvon光譜儀*結(jié)合，為近紅外光譜提供高靈敏度探測(cè)。 詳情介紹 IGA array 探測(cè)器儀器介紹 HORIBA科學(xué)儀器部InGaAs陣列 探測(cè)器 ，是近紅外NIR弱信號(hào)探測(cè)的理想選擇，擁有可以測(cè)量到0.8-1.7μm和1-2.2μm的兩種類型，制冷可以采用TE制冷或者液氮制冷的方式?？梢耘cHORIBA Jobin Yvon光譜儀*結(jié)合，為近紅外光譜提供高靈敏度探測(cè)。 IGA array 主要特點(diǎn) 1、 液氮制冷： 可制冷到-103℃以降低暗噪聲； 2、 高信號(hào)線性度： 在整個(gè)動(dòng)態(tài)范圍內(nèi)均可以獲得高準(zhǔn)確性的數(shù)據(jù)； 3、 采集模式可選： 通過軟件可選擇高靈敏度模式和高動(dòng)態(tài)范圍模式，以優(yōu)化 獲得的信噪比； 4、 靈活的軟件選擇： 與功能*的SynerJY® 軟件連接，可進(jìn)行 和光譜儀的控制和數(shù)據(jù)采集。對(duì)更多的定制實(shí)驗(yàn)，可與軟件開發(fā)工具包（SDK）或者LabVIEW® VIs結(jié)合，對(duì) 和測(cè)量過程各個(gè)方面的*控制。 規(guī)格 芯片規(guī)格 像素尺寸 光譜范圍 制冷方式 512x1 25μm x 500μm 800-1700nm@25℃ TE制冷 512x1 50μm x 500μm 800-1700nm@25℃ TE制冷 1024x1 25μm x 500μm 800-1700nm@25℃ TE制冷 512x1 25μm x 500μm 800-1700nm@25℃ 液氮制冷 512x1 50μm x 500μm 800-1700nm@25℃ 液氮制冷 1024x1 25μm x 500μm 800-1700nm@25℃ 液氮制冷 512x1 25μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ TE制冷 512x1 50μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ TE制冷 1024x1 25μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ TE制冷 512x1 25μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ 液氮制冷 512x1 50μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ 液氮制冷 1024x1 25μm x 250μm 1000-2200nm@25℃ 液氮制冷 上一篇： XGT-5000X射線熒光分析顯微鏡 下一篇： SymphonyCCD探測(cè)器